000 02371nam a22002177a 4500
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003 OSt
003 UNAJMA
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020 _a84-291-4889-2
040 _aUNAJMA
_cEPIA
082 _a620.004 2
_bT85
100 _96522
_aTsai, Stephen W.
245 _aDiseño y análisis de materiales compuestos
_cStephen W. Tsai
260 _aBARCELONA
_bEDITORIAL REVERTÉ, S.A.
_c1988
300 _a322
_c21.5 cm
505 _aSistema de notación y simbología. -- Ley de hooke generalizada. -- Tensión y deformación plana. -- Transformaciones de tensión y deformaciones. -- Rigidez de la lámina. -- Rigidez plana de laminados simétricos. -- Rigidez de laminados no simétricos. -- Micro mecánica. -- Criterios de rotura. -- Resistencia de limite y ultima de laminados. -- Diseño basado en tensiones principales. -- Diseño por clasificación. -- Tensiones y deformaciones residuales. -- Efectos ambientales. -- Efectos higrotérmicos. -- Uniones atornilladas. -- Comportamiento a fatiga. -- Resistencia de materiales con entallas. -- Métodos de ensayo. -- Tensiones interlaminares. -- Depósitos a presión. -- planteo de paneles. -- Sándwich rigidizados. -- El diseño mediante elementos finitos. -- Manual de genlam. -- Manual del lamrank-4. -- Hoja electrónica de cálculo de micro - macromecánica. -- Esquema internacional.
650 _2Sistema de notación y simbología. -- Ley de hooke generalizada. -- Tensión y deformación plana. -- Transformaciones de tensión y deformaciones. -- Rigidez de la lámina. -- Rigidez plana de laminados simétricos. -- Rigidez de laminados no simétricos. -- Micro mecánica. -- Criterios de rotura. -- Resistencia de limite y ultima de laminados. -- Diseño basado en tensiones principales. -- Diseño por clasificación. -- Tensiones y deformaciones residuales. -- Efectos ambientales. -- Efectos higrotérmicos. -- Uniones atornilladas. -- Comportamiento a fatiga. -- Resistencia de materiales con entallas. -- Métodos de ensayo. -- Tensiones interlaminares. -- Depósitos a presión. -- planteo de paneles. -- Sándwich rigidizados. -- El diseño mediante elementos finitos. -- Manual de genlam. -- Manual del lamrank-4. -- Hoja electrónica de cálculo de micro - macromecánica. -- Esquema internacional.
942 _2ddc
_cLIB
999 _c9556
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